SK-732

擊穿氧化層一般電性二極體測試機

  • 產品介紹，擊穿氧化層一般電性二極體測試機
測試規格
測試
項目
量測
規格


輸出
項目		 輸出規格 備註
單位 範圍 精度 重複性 單位 範圍 精度 輸出時間
VF1 V 0.001~4.000 ±0.5%±0.002 ±0.002 IF1 A 0.0001~0.0099 ±0.5%+0.0002 0.3~9.9ms
0.0100~0.0400 ±0.5%+0.0002 0.3~9.9ms
0.041~0.400 ±0.5%+0.002 0.3~9.9ms
0.401~4.000 ±0.5%+0.002 0.3~9.9ms
4.001~25.00 ±0.5%+0.02 0.3~9.9ms 註1
VZ1 V 1.000~16.000 ±0.5%+0.002 ±0.002 IZ1 mA .0050~.1000 ±0.5%+0.0002 1~200ms MAX 2000V
16.01~160.00 ±0.5%+0.02 ±0.02 0.101~1.000 ±0.5%+0.002 1~200ms MAX 2000V
160.1~400.0 ±0.5%+0.2 ±0.2 1.01~10.00 ±0.5%+0.02 1~200ms MAX 400V
401~2000 ±0.5%+2 ±2 10.1~100 ±0.5%+0.2 1~200ms MAX 80V
VZ2 V 1.000~16.000 ±0.5%+0.002 ±0.002 IZ2 mA .0050~.1000 ±0.5%+0.0002 1~200ms MAX 2000V
16.01~160.00 ±0.5%+0.02 ±0.02 0.101~1.000 ±0.5%+0.002 1~200ms MAX 2000V
160.1~400.0 ±0.5%+0.2 ±0.2 1.01~10.00 ±0.5%+0.02 1~200ms MAX 400V
401~2000 ±0.5%+2 ±2 10.1~100 ±0.5%+0.2 1~200ms MAX 80V
VZ3 V 1.000~16.000 ±0.5%+0.002 ±0.002 IZ3 mA .0050~.1000 ±0.5%+0.0002 1~200ms MAX 2000V
16.01~160.00 ±0.5%+0.02 ±0.02 0.101~1.000 ±0.5%+0.002 1~200ms MAX 2000V
160.1~400.0 ±0.5%+0.2 ±0.2 1.01~10.00 ±0.5%+0.02 1~200ms MAX 400V
401~2000 ±0.5%+2 ±2 10.1~100 ±0.5%+0.2 1~200ms MAX 80V
DVZ DVZ = / VZ2 - VZ1 /
IR uA .0010~.9900 ±3%+0.0002
VR = %VZ1 1% ~ 99% 10~200ms
0.990~9.900 ±3%+0.002
9.90~99.00 ±3%+0.02
99.0~990.0 ±3%+0.2
990~9900 ±3%+2
IR1 uA .0010~.9900 ±3%+0.0002
VR1 V 1.000~16.000 ±0.5%+0.002 10~200ms
0.990~9.900 ±3%+0.002
16.01~160.00 ±0.5%+0.02 10~200ms
9.90~99.00 ±3%+0.02
160.1~400.0 ±0.5%+0.2 10~200ms
99.0~990.0 ±3%+0.2
401~2000 ±0.5%+2 10~200ms
990~9900 ±3%+2




IR2 uA .0010~.9900 ±3%+0.0002
VR2 V 1.000~16.000 ±0.5%+0.002 10~200ms
0.990~9.900 ±3%+0.002
16.01~160.00 ±0.5%+0.02 10~200ms
9.90~99.00 ±3%+0.02
160.1~400.0 ±0.5%+0.2 10~200ms
99.0~990.0 ±3%+0.2
401~2000 ±0.5%+2 10~200ms
990~9900 ±3%+2




DIR DIR = / IR1 - IR2 /


  • 1.若IF1 >10A 輸出時間MAX 1ms
  • 2.單向與雙向測試能力
  • 3.RS232輸出能力
  • 4.自我校驗功能
  • 5.電源:AC 110V\220V可選
  • 6.可透過通訊指令設定起始IZ電流，終止IZ電流，IZ步階電流，將每點VZ值透過通訊傳輸至PC繪製VZ曲線。


下載規格資料
擊穿氧化層一般電性二極體 擊穿氧化層一般電性二極體