OHLD-14A00
單晶LD測試機
基本功能
基本功能
- 可依設定條件分為30類
- 量測光學路徑經過治具，需經過正確的光譜補償校正，光譜規格依據原廠光譜儀，可依需求選定
- 含RS-232界面可與PC連接
附件包括:
- 機械界面連接排線 *1
- 測試元件連接線 *1
- IR光纖*1
測試規格
| OHLD-14A00 | |||
| LOP | Bias | If: | 0.001 ~ 4.000A ± (0.5%+2counts) |
| Ift: |
0.3 mS ~ 999mS (If<=40mA)
0.3 mS ~ 99.9mS (40mA
0.3 mS ~ 10.0mS (If>400mA)
|
||
| Lop: | 0.000~65535 mw或單位自訂 | ||
| VF | Bias | If: | 同LOP |
| Ift: | 同LOP | ||
| Vf: | 0.000 ~ 8.000V ± (0.5%+2counts) | ||
| VZ | Bais | Iz: | 0.01 ~ 40.00mA ± (0.5%+2counts) |
| Izt: | 5.0~200.0mS | ||
| Vz: | 0.0~200.0V±(1%+2Digits) | ||
| IR | Bais | Vr: | 0.1~200.0V±(0.25%+2Digits) |
| Vrt: | 3.0~200.0mS | ||
| Ir: | 0.0 ~400.0uA±(1%+2counts) | ||
| Wavelength | Bias | Ifw: | 0.001 ~ 4.000A±(0.5%+2counts) |
| Ifwt: | 同LOP | ||
| λp: | 830 ~ 960 nm ± (0.5 nm) (參照說明3.) | ||
| HW | 0.6 ~ 100 nm ± (0.3 nm) | ||
