OHLD-14A00
单晶LD测试机
基本功能
基本功能
- 可依设定条件分为30类
- 量测光学路径经过治具，需经过正确的光谱补偿校正，光谱规格依据原厂光谱仪，可依需求选定
- 含RS-232界面可与PC连接
附件包括:
- 机械界面连接排线 *1
- 测试元件连接线 *1
- IR光纤*1
测试规格
| OHLD-14A00 | |||
| LOP | Bias | If: | 0.001 ~ 4.000A ± (0.5%+2counts) |
| Ift: |
0.3 mS ~ 999mS (If<=40mA)
0.3 mS ~ 99.9mS (40mA
0.3 mS ~ 10.0mS (If>400mA)
|
||
| Lop: | 0.000~65535 mw或单位自订 | ||
| VF | Bias | If: | 同LOP |
| Ift: | 同LOP | ||
| Vf: | 0.000 ~ 8.000V ± (0.5%+2counts) | ||
| VZ | Bais | Iz: | 0.01 ~ 40.00mA ± (0.5%+2counts) |
| Izt: | 5.0~200.0mS | ||
| Vz: | 0.0~200.0V±(1%+2Digits) | ||
| IR | Bais | Vr: | 0.1~200.0V±(0.25%+2Digits) |
| Vrt: | 3.0~200.0mS | ||
| Ir: | 0.0 ~400.0uA±(1%+2counts) | ||
| Wavelength | Bias | Ifw: | 0.001 ~ 4.000A±(0.5%+2counts) |
| Ifwt: | 同LOP | ||
| λp: | 830 ~ 960 nm ± (0.5 nm) (参照说明3.) | ||
| HW | 0.6 ~ 100 nm ± (0.3 nm) | ||
