ZCLED-4FR20\N

4晶并测LED测试机

  • 产品介绍, 4晶并测LED测试机
基本功能

注意

  1. 使用一般LED实际测试的结果，需排除待测物受热及环境的影响
  2. S/N比较差时需使用电源(60Hz)滤波功能

备注

  1. 使用标准件校正LOP读值并随波长修正
  2. λd/Purity/CCT由x,y计算,请参阅x,y的准确度与跳动范围
  3. 选用尖峰型光谱的LED进行测试,平顶型的光谱波形会造成λp读值范围大 
  4. 经过正确的光谱校正后,UV波段校正需使用UV标准灯源
  5. ZCLED-4FR20N尺寸: 48.5*53*24cm
  6. 待测物为单色LED且经正确的标准件校验后, λd读值仅限可见光波长
  7. 本测试项目 支援可同时测试4晶粒
  8. 建议材料使用在约20V以上的材料小于20V在接触异常情况可能容易造成融针
测试规格
测试项目 测试条件 　 测试值
输出 电压档位 档位范围 解析度 准确度 测试
时间		 测试
结果		 档位范围 解析度 重复性 准确度 备注
极性 IF 同VF 分辨极性,无读值显示
预热 IF 同VF (时间参照VF对照) 电流加热,无读值显示
VF IF 40v 0.0010~0.4000mA 0.0001mA ±(1%+0.0002mA) 99mS VF 0.001~10.000V 0.001V ±0.02V ±(0.25%+0.04V) 7
0.401~4.000mA 0.001mA ±(1%+0.002mA)
4.01~40.00mA 0.01mA ±(1%+0.02mA) 10.01~40.00V 0.01V ±0.02V ±(0.25%+0.04V)
40.1~400.0mA 0.1mA ±(1%+0.2mA)
DVF IF 同VF DVF 同VF
VFD IFD 0 ->100uA 大约值 VFD 0.001~8.000V 0.01V ±0.02V 大约值 7
0 ->25mA
VZ IZ 200V 0.01~40.00uA 0.01uA ±(1%+0.02uA) 99mS VZ 0.1~200.0V 0.1V ±0.2V ±(0.5%+0.2V) 7
40.1~400.0uA 0.1uA ±(1%+0.2uA)
401~1000uA 1uA ±(1%+2uA)
IR VR 400uA 0.1~200.0V 0.1V ±(0.5%+0.2V) 99mS IR 0.000~4.000uA 0.001uA ±0.005uA ±(1%+0.002uA) 7
4.01~40.00uA 0.01uA ±0.05uA ±(1%+0.02uA)
40.1~400.0uA 0.1uA ±0.5uA ±(1%+0.2uA)
LOP
(Iv或Ie
或光通量)		 IF 同VF
(UV波段的材料需使用无视效函数侦测器如UV-100)		 LOP
(Iv或Ie
或光通量)		 0.000~4.000 0.001 ±1% ±2% 1
4.01~40.00 0.01
40.1~400.0 0.1
使用gain/offset校正Iv或Ie或光通量为实际读值
光谱 IF 同VF,CCD为2048pixel ,积分时 间最小可到0.2mS λd 380.0~700.0nm 0.1nm ±0.3nm ±0.5nm 2,3,4
λc 370.0~720.0nm 0.1nm ±0.3nm ±0.5nm 4
λp 380.0~1000.0nm 0.1nm ±0.3nm ±0.5nm 3,4
HW 3.0~600.0nm 0.1nm ±0.3nm  ±0.5nm 4
Purity 0.000~1.000 0.001 ±0.001 ±0.002 2,4
CIE x,y 0.0000~1.0000 0.0001 ±0.0005 ±0.001 4
CCT 1000~25000°K 1°K ±50°K ±100°K 2,4